ワークショップ11

21日 9:00-12:00 第12会場

下部消化管疾患に対する拡大内視鏡の最前線

公募

  司会 緒方晴彦 慶應義塾大病院・内視鏡センター
    田中信治 広島大・内視鏡診療科
大腸拡大電子内視鏡のスペックが非拡大内視鏡とほぼ同じになり操作性が向上するとともに高画素化し,さらには,NBI/FICEなどの画像強調観察(IEE)も簡便に併用できるようになり,2010年4月には保険認可された。このような中,従来の色素を用いたpit pattern診断とIEEをどのように使い分けるか,あるいは,どのように組み合わせるかが大腸内視鏡検査の効率と精度の鍵を握っている。本セッションでは,sporadicな腫瘍のみでなく炎症性腸疾患・炎症関連腫瘍もふくめた大腸病変に対する拡大内視鏡診断の最先端について議論するが,今回の要点を「従来の色素を用いたpit pattern診断とIEEによる拡大観察の棲み分け」とする。その際,pit pattern分類は「工藤・鶴田分類」を,IEEに関しては,Vascular patternに加えて,「表面微細構造」を第72回JGESのコンセンサスシンポジウムで提唱された「Surface pattern」という用語で表記し発表していただきたい。